Measuring Compositions in Organic Depth Profiling: Results from a VAMAS Interlaboratory Study
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2015
SIZE-DEPENDENCE
TOF-SIMS
ION MASS-SPECTROMETRY
FILMS
EFFICIENCY
Physical
Chemistry
UNIVERSAL EQUATION
EMISSION
CLUSTER SPUTTERING YIELDS
BEAMS
SUPPRESSION
Författare
A. G. Shard
R. Havelund
S. J. Spencer
I. S. Gilmore
M. R. Alexander
Tina B. Angerer
Göteborgs universitet
S. Aoyagi
J. P. Barnes
A. Benayad
A. Bernasik
G. Ceccone
J. D. P. Counsell
C. Deeks
John Fletcher
Göteborgs universitet
D. J. Graham
C. Heuser
T. G. Lee
C. Marie
M. M. Marzec
G. Mishra
D. Rading
O. Renault
D. J. Scurr
H. K. Shon
V. Spampinato
H. Tian
F. Y. Wang
N. Winograd
K. Wu
A. Wucher
Y. F. Zhou
Z. H. Zhu
Journal of Physical Chemistry B
1520-6106 (ISSN) 1520-5207 (eISSN)
Vol. 119 33 10784-10797Ämneskategorier
Analytisk kemi
DOI
10.1021/acs.jpcb.5b05625