Thickness measurement of small particles in TEM with EELS, CBED and EFTEM
Paper i proceeding, 2002

Författare

Yiming Yao

Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Anders Thölén

Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Proceedings of ICEM-15 Durban 2002, 15th International Congress of Electron Microscopy, Durban South Africa, 1-6 September 2002

469-470

Ämneskategorier

Annan materialteknik

Styrkeområden

Materialvetenskap