Thickness measurement of small particles in TEM with EELS, CBED and EFTEM
Paper i proceeding, 2002
Författare
Yiming Yao
Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Anders Thölén
Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Proceedings of ICEM-15 Durban 2002, 15th International Congress of Electron Microscopy, Durban South Africa, 1-6 September 2002
469-470
Ämneskategorier
Annan materialteknik
Styrkeområden
Materialvetenskap