Controlling In-Ga-Zn-O thin films transport properties through density changes
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2016
In-Ga-Zn-O
Schottky contacts
Amorphous oxide semiconductors
IGZO
Atom Probe Tomography
Författare
J. Kaczmarski
Instytut Technologii Elektronowej (ITE)
Torben Boll
Chalmers, Fysik, Materialens mikrostruktur
M. A. Borysiewicz
Instytut Technologii Elektronowej (ITE)
A. Taube
Politechnika Warszawska
Instytut Technologii Elektronowej (ITE)
Mattias Thuvander
Chalmers, Fysik, Materialens mikrostruktur
Jiayan Law
Chalmers, Fysik, Materialens mikrostruktur
E. Kaminska
Instytut Technologii Elektronowej (ITE)
Krystyna Marta Stiller
Chalmers, Fysik, Materialens mikrostruktur
Thin Solid Films
0040-6090 (ISSN)
Vol. 608 57-61Ämneskategorier
Materialteknik
Fysik
Styrkeområden
Materialvetenskap
DOI
10.1016/j.tsf.2016.04.012