Cross-Sectional Scanning Tunneling Microscopy of Bi Atoms in InP
Paper i proceeding, 2015

Författare

CM Krammel

K Wang

Y Gu

LY Zhang

YY Li

YX Song

Q Gong

Shu Min Wang

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Fotonik

PM Koenraad

42nd International Symposium on Compound Semiconductors, Santa Barbara, USA, June 28-July 2, 2015

Ämneskategorier

Fysik