An efficient parameter extraction algorithm for MOS transistor models
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1992
Circuit simulation
Equations
Production control
MOSFETs
Integrated circuit modeling
SPICE
Data mining
Semiconductor device modeling
Parameter extraction
Threshold voltage
Författare
Peter R. Karlsson
Institutionen för fasta tillståndets elektronik
Kjell Jeppson
Institutionen för fasta tillståndets elektronik
Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap
IEEE Transactions on Electron Devices
0018-9383 (ISSN) 15579646 (eISSN)
Vol. 39 9 2070 - 2076Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik
DOI
10.1109/16.155879