Interfaces in Oxides Formed on NiAlCr Doped with Y, Hf, Ti, and B
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2017
atom probe tomography
grain boundaries
diffusion
reactive elements
oxidation
Författare
Torben Boll
Chalmers, Fysik, Materialens mikrostruktur
K.A. Unocic
Oak Ridge National Laboratory
B.A. Pint
Oak Ridge National Laboratory
Krystyna Marta Stiller
Chalmers, Fysik, Materialens mikrostruktur
Microscopy and Microanalysis
1431-9276 (ISSN) 1435-8115 (eISSN)
Vol. 23 2 396-403Ämneskategorier
Materialteknik
Fysik
DOI
10.1017/S1431927617000186