Specific Capacitance Dependence on the Specific Resistance in Nb/Al-AlOx/Nb Tunnel Junctions
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2017
Capacitance measurement
Superconducting microwave devices
Submillimeter wave devices
superconductor–insulator–superconductor (SIS) mixer
Microwave measurement
Tunnel junctions
Författare
Parisa Yadranjee Aghdam
Chalmers, Rymd- och geovetenskap, Avancerad mottagarutveckling
Hawal Marouf Rashid
Chalmers, Rymd- och geovetenskap, Avancerad mottagarutveckling
Alexey Pavolotskiy
Chalmers, Rymd- och geovetenskap, Avancerad mottagarutveckling
Vincent Desmaris
Chalmers, Rymd- och geovetenskap, Avancerad mottagarutveckling
Denis Meledin
Chalmers, Rymd- och geovetenskap, Avancerad mottagarutveckling
Victor Belitsky
Chalmers, Rymd- och geovetenskap, Avancerad mottagarutveckling
IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
2156-342X (ISSN) 21563446 (eISSN)
Vol. 7 5 586-592 7987805Infrastruktur
Nanotekniklaboratoriet
Ämneskategorier
Annan elektroteknik och elektronik
DOI
10.1109/TTHZ.2017.2723803