In-Situ TEM characterization of the effect of interfaces on charge transport in Cu(In,Ga)Se2 thin film solar cells
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2009

Författare

Gustaf Östberg

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

E. Yucelen

FEI Company

Krister Svensson

Karlstads universitet

Eva Olsson

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Microscopy and Microanalysis

1431-9276 (ISSN) 1435-8115 (eISSN)

Vol. 15 712-713

Ämneskategorier

Annan teknik

DOI

10.1017/S1431927609097980