In-Situ TEM characterization of the effect of interfaces on charge transport in Cu(In,Ga)Se2 thin film solar cells
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2009
Författare
Gustaf Östberg
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
E. Yucelen
FEI Company
Krister Svensson
Karlstads universitet
Eva Olsson
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Microscopy and Microanalysis
1431-9276 (ISSN) 1435-8115 (eISSN)
Vol. 15 SUPPL. 2 712-713Ämneskategorier
Annan teknik
DOI
10.1017/S1431927609097980