Analysis of bulk dielectrics with atom probe tomography
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2008

[No abstract available]

Författare

DJ Larson

Imago Scientific Instruments

R. L. Alvis

Imago Scientific Instruments

D. F. Lawrence

Imago Scientific Instruments

T Prosa

Imago Scientific Instruments

R. M. Ulfig

Imago Scientific Instruments

D Reinhard

Imago Scientific Instruments

P. H. Clifton

Imago Scientific Instruments

Stephan S A Gerstl

Imago Scientific Instruments

J. H. Bunton

Imago Scientific Instruments

D. R. Lenz

Imago Scientific Instruments

T. F. Kelly

Imago Scientific Instruments

Krystyna Marta Stiller

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Forskning Andra publikationer

Microscopy and Microanalysis

1431-9276 (ISSN) 1435-8115 (eISSN)

Vol. 14 SUPPL. 2 1254-1255

Ämneskategorier

Fysik

DOI

10.1017/S1431927608083657

Publikationsdata kopplat till DOI

Mer information

Skapat

2017-12-28

Feedback och support

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se eller via telefon 031-772 3744.

Om tjänsten

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Länkar

Chalmers bibliotek
Chalmers forskning
Forskningsprojekt på chalmers.se

Chalmers tekniska högskola

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE