Microwave Breakdown in RF Devices Containing Sharp Corners
Paper i proceeding, 2006

Författare

T. Olsson

Ulf Jordan

Chalmers, Institutionen för radio- och rymdvetenskap, Icke-linjär elektrodynamik

D.S. Dorozhkina

V. Semenov

Dan Anderson

Chalmers, Institutionen för radio- och rymdvetenskap, Icke-linjär elektrodynamik

Mietek Lisak

Chalmers, Institutionen för radio- och rymdvetenskap, Icke-linjär elektrodynamik

J. Puech

I. Nefedov

I. Shereshevskii

Proceedings of 2006 IEEE MTT-S International Microwave Symposium, San Francisco, CA, June 11-16

1233-1236

Ämneskategorier

Fysik