Microwave Breakdown in RF Devices Containing Sharp Corners
Paper i proceeding, 2006
Författare
T. Olsson
Ulf Jordan
Chalmers, Institutionen för radio- och rymdvetenskap, Icke-linjär elektrodynamik
D.S. Dorozhkina
V. Semenov
Dan Anderson
Chalmers, Institutionen för radio- och rymdvetenskap, Icke-linjär elektrodynamik
Mietek Lisak
Chalmers, Institutionen för radio- och rymdvetenskap, Icke-linjär elektrodynamik
J. Puech
I. Nefedov
I. Shereshevskii
Proceedings of 2006 IEEE MTT-S International Microwave Symposium, San Francisco, CA, June 11-16
1233-1236
Ämneskategorier
Fysik