Quantitative metallography of sigma phase precipitates in AISI 347 stainless steel - a comparison between different methods
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2004

Image analysis

Etching

Volume fraction

SEM

Författare

Jenny M Erneman

Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Lars Nylöf

Jan-Olof Nilsson

Hans-Olof Andrén

Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Materials Science and Technology

Vol. 20 1245-1251

Ämneskategorier

Materialteknik