Dispersion of the surface phonons in semiconductor/topological insulator Si/Bi2 Te3 heterostructure studied by high resolution Brillouin spectroscopy
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2021
Topological insulator
Finite Element Method
Surface phonons
Brillouin spectroscopy
Electron phonon coupling
Rayleigh and Sezawa waves
Elastic properties
Författare
A. Trzaskowska
Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu
S. Mielcarek
Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu
M. Wiesner
Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu
Floriana Lombardi
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
B. Mroz
Uniwersytet im. Adama Mickiewicza w Poznaniu
Ultrasonics
0041-624X (ISSN)
Vol. 117 106526Ämneskategorier
Atom- och molekylfysik och optik
Annan fysik
Den kondenserade materiens fysik
DOI
10.1016/j.ultras.2021.106526
PubMed
34303926