Addressing the oxide-aperture dependency of the degradation of 845 nm VCSELs for Silicon Photonics
Paper i proceeding, 2025
silicon photonics
VCSEL
oxide aperture
degradation
Författare
M. Buffolo
Università di Padova
M. Zenari
Università di Padova
C. De Santi
Università di Padova
Francesca Rossi
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo
Laura Lazzarini
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo
Gunther Roelkens
Universiteit Gent
Anders Larsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Alexander Grabowski
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Johan Gustavsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
G. Meneghesso
Università di Padova
E. Zanoni
Università di Padova
M. Meneghini
Università di Padova
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
0277786X (ISSN) 1996756X (eISSN)
Vol. 13384 13384089781510685161 (ISBN)
San Francisco, USA,
Ämneskategorier (SSIF 2025)
Atom- och molekylfysik och optik
Den kondenserade materiens fysik
Telekommunikation
DOI
10.1117/12.3041685