Critical thickness of nano-scale lattice mismatched heterostructures

P.F. Lu; Shu Min Wang

Critical thickness of nano-scale lattice mismatched heterostructures
Paper i proceeding, 2007

Författare

P.F. Lu

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap

Shu Min Wang

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik

Forskning Andra publikationer

19th International Conference on Indium Phosphide and Related Materials (IPRM’07), Matsue, Japan, May 14, 2007 (post-deadline)

Ämneskategorier (SSIF 2011)

Elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-06

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se.

Meddelande

Din e-postadress

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Chalmers bibliotek

Chalmers forskning

Chalmers examensarbeten

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE

Critical thickness of nano-scale lattice mismatched heterostructures Paper i proceeding, 2007