Deep level transient spectroscopy in quantum dot characterization
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2008

Författare

Olof Engström

Chalmers, Teknisk fysik, Fysikalisk elektronik

M Kaniewska

Publicerad i

Nanotech. Res. Lett.

Vol. 3 s. 179-

Kategorisering

Ämneskategorier (SSIF 2011)

Annan teknik

Identifikatorer

Mer information

Skapat

2017-10-06