Deep level transient spectroscopy in quantum dot characterization
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2008

Författare

Olof Engström

Chalmers, Teknisk fysik, Fysikalisk elektronik

Forskning Andra publikationer

M Kaniewska

Nanotech. Res. Lett.

Vol. 3 179-

Ämneskategorier (SSIF 2011)

Annan teknik

Mer information

Skapat

2017-10-06

Feedback och support

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se.

Om tjänsten

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Länkar

Chalmers bibliotek
Chalmers forskning
Chalmers examensarbeten

Chalmers tekniska högskola

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE