Deep level transient spectroscopy in quantum dot characterization
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2008
Författare
Olof Engström
Chalmers, Teknisk fysik, Fysikalisk elektronik
M Kaniewska
Publicerad i
Nanotech. Res. Lett.
Vol. 3 s. 179-
Kategorisering
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Annan teknik