Charge noise in single-electron transistors and charge qubits may be caused by metallic grains
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2008
Författare
Serguei Kafanov
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
Henrik Brenning
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
Tim Duty
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
Per Delsing
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
24699950 (ISSN) 24699969 (eISSN)
Vol. 78 12 125411- 125411Ämneskategorier
Fysik
Den kondenserade materiens fysik
DOI
10.1103/PhysRevB.78.125411