Static Characterization and parameter Extraction in MOS Transistors
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1998
Författare
Kjell Jeppson
Institutionen för mikroelektronik, Fasta tillståndets elektronik
Microelectronic Engineering
0167-9317 (ISSN)
Vol. 40 3-4 181-186Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik
DOI
10.1016/S0167-9317(98)00269-X