Randomized benchmarking and process tomography for gate errors in a solid-state qubit
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2009
Författare
J.M. Chow
J.M. Gambetta
Lars Tornberg
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Tillämpad kvantfysik
Jens Koch
Lev S. Bishop
A. A. Houck
B. R. Johnson
L. Frunzio
S.M. Girvin
RJ Schoelkopf
Physical Review Letters
0031-9007 (ISSN) 1079-7114 (eISSN)
Vol. 102 9Ämneskategorier
Den kondenserade materiens fysik
DOI
10.1103/PhysRevLett.102.090502