Initial Formation of Contact Layers on Ni/SiC Samples Studied by XPS
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2008

Författare

Sergio Alfonso Garcia Perez

Lars Nyborg

Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik

Yu Cao

Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik

Publicerad i

Surface and Interface Analysis

Vol. 40 Nummer/häfte 8 s. 1144-1148

Kategorisering

Ämneskategorier (SSIF 2011)

Materialteknik

Identifikatorer

Mer information

Skapat

2017-10-08