Surface roughness of GaN and thin AlGaN layers grown by molecular beam epitaxy

Xinju Liu; Thorvald Andersson

Surface roughness of GaN and thin AlGaN layers grown by molecular beam epitaxy
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2004

Författare

Xinju Liu

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

Forskning Andra publikationer

Thorvald Andersson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

Forskning Andra publikationer

applied surface science

Vol. 226 331-

Ämneskategorier

Fysik

Mer information

Skapat

2017-10-06

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se.

Meddelande

Din e-postadress

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Chalmers bibliotek

Chalmers forskning

Chalmers examensarbeten

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE

Surface roughness of GaN and thin AlGaN layers grown by molecular beam epitaxy Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2004