Characterization and modeling of electrically active point defects in silicon/silcon dioxide structures
Doktorsavhandling, 1991
MOS capacitors
electro-optical techniques
Författare
Mats O. Andersson
Institutionen för fasta tillståndets elektronik
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik
ISBN
91-7032-632-0
Technical report - School of Electrical and Computer Engineering, Chalmers University of Technology, Göteborg, Sweden: 220
Doktorsavhandlingar vid Chalmers tekniska högskola. Ny serie: 829