Using Heavy-ion Fault Injection to Evaluate Fault Tolerance with respect to Cluster Size in a Time-triggered Communication System
Paper i proceeding, 2003
Författare
Håkan Sivencrona
M. Persson
Jan Torin
Chalmers, Institutionen för datorteknik
Proceedings of IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS-6) April 2003, Poznan 2003
171-176
83-7143-557-6 (ISBN)
Ämneskategorier
Data- och informationsvetenskap
ISBN
83-7143-557-6