Cross-Sectional Scanning Tunneling Microscopy of Bi Atoms in InP
Paper i proceeding, 2015
Författare
CM Krammel
K Wang
Y Gu
LY Zhang
YY Li
YX Song
Q Gong
Shu Min Wang
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
PM Koenraad
42nd International Symposium on Compound Semiconductors, Santa Barbara, USA, June 28-July 2, 2015
Ämneskategorier
Fysik