Quantitative metallography of sigma phase precipitates in AISI 347 stainless steel - a comparison between different methods
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2004
Image analysis
Etching
Volume fraction
SEM
Författare
Jenny M Erneman
Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Lars Nylöf
Jan-Olof Nilsson
Hans-Olof Andrén
Chalmers, Institutionen för experimentell fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Materials Science and Technology
Vol. 20 1245-1251
Ämneskategorier
Materialteknik