Reply to comment on “Penetration of corrosive species into copper exposed to simulated O2 -free groundwater by time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS)”
Övrig text i vetenskaplig tidskrift, 2023
Hydrogen embrittlement
Sulphur-induced corrosion
Nano-SIMS
ToF-SIMS
Copper
Nuclear waste disposal
Författare
Jinshan Pan
Kungliga Tekniska Högskolan (KTH)
Xiaoqi Yue
Kungliga Tekniska Högskolan (KTH)
Per Malmberg
Chalmers, Kemi och kemiteknik, Kemi och biokemi
Elisa Isotahdon
Teknologian Tutkimuskeskus (VTT)
Vilma Ratia-Hanby
Teknologian Tutkimuskeskus (VTT)
Elina Huttunen-Saarivirta
Teknologian Tutkimuskeskus (VTT)
C. Leygraf
Kungliga Tekniska Högskolan (KTH)
Corrosion Science
0010-938X (ISSN)
Vol. 217 111137Ämneskategorier
Oorganisk kemi
Metallurgi och metalliska material
Korrosionsteknik
DOI
10.1016/j.corsci.2023.111137