Transient Noise and Gain Characterization for Pulse-Operated LNAs
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2024
Noise
noise measurement
Noise measurement
Bandwidth
transients
Temperature measurement
Low-noise amplifier (LNA)
Transient analysis
noise figure
Oscilloscopes
Gain
Författare
Yin Zeng
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
Jörgen Stenarson
Low Noise Factory AB
Peter Sobis
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
Jan Grahn
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
IEEE Microwave and Wireless Technology Letters
2771957X (ISSN) 27719588 (eISSN)
Vol. In PressÄmneskategorier
Signalbehandling
DOI
10.1109/LMWT.2024.3398248