TEM Investigation of Alpha Alumina Films Deposited at Low Temperature
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2008

Författare

Andy N. Cloud

Sead Canovic

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

H. H. Abu-Safe

Matt Gordon

Mats Halvarsson

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Surface Coatings and Technology

Vol. 203 808-811

Ämneskategorier

Annan materialteknik

Mer information

Skapat

2017-10-06