Application of ARXPS for characterisation of SiC/Ni2Si Thin Film Systems
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2006
XPS
SiC/Ni2Si
thin film systems
agle-resolved analysis
Författare
Sergio Alfonso Garcia Perez
Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik
Lars Nyborg
Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik
ECASIA 2005, Surface and Interface Analysis special edition
Ämneskategorier
Materialteknik