Application of ARXPS for characterisation of SiC/Ni2Si Thin Film Systems
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2006

XPS

SiC/Ni2Si

thin film systems

agle-resolved analysis

Författare

Sergio Alfonso Garcia Perez

Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik

Lars Nyborg

Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik

Ämneskategorier

Materialteknik