Effect of Annealing on Microstructural Development and Grain Orientation in Electrodeposited Ni
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2010
thermal stability
in-situ TEM
Nickel
electrodeposition
texture development
EBSD
Författare
Uta Klement
Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik
Lutz Hollang
Suhash Dey
Manjusha Battabyal
Chalmers, Material- och tillverkningsteknik, Yt- och mikrostrukturteknik
Oleg Mishin
Werner Skrotzki
Diffusion and Defect Data Pt.B: Solid State Phenomena
1012-0394 (ISSN)
Vol. 160 235-240Ämneskategorier
Annan materialteknik
DOI
10.4028/www.scientific.net/SSP.160.235