Macroscopic defects in GaN/AlN multiple quantum well structures grown by MBE on GaN templates
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2009
Template
MBE
Surface cracks
Sapphire substrate
Intersubband
GaN
Författare
Thorvald Andersson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Xinju Liu
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
T. Aggerstam
Kungliga Tekniska Högskolan (KTH)
P. Holmstrom
Kungliga Tekniska Högskolan (KTH)
S. Lourdudoss
Kungliga Tekniska Högskolan (KTH)
L. Thylen
Kungliga Tekniska Högskolan (KTH)
Y. L. Chen
National Sun Yat-Sen University
C. H. Hsieh
National Sun Yat-Sen University
I. Lo
National Sun Yat-Sen University
Microelectronics
0026-2692 (ISSN)
Vol. 40 2 360-362Ämneskategorier
Annan elektroteknik och elektronik
DOI
10.1016/j.mejo.2008.07.065