Interfaces between 4H-SiC and thermally grown SiO2: Microstructure, nanochemistry, and near-interface traps
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2005

Författare

E. Pippel

J Woltersdorf

Halldor Olafsson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

Einar Sveinbjörnsson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

Journal of Applied Physics

Vol. 97 034302-

Ämneskategorier

Den kondenserade materiens fysik

Mer information

Skapat

2017-10-06