Interfaces between 4H-SiC and thermally grown SiO2: Microstructure, nanochemistry, and near-interface traps
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2005
Författare
E. Pippel
J Woltersdorf
Halldor Olafsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Einar Sveinbjörnsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Journal of Applied Physics
Vol. 97 034302-
Ämneskategorier
Den kondenserade materiens fysik