HIGH ROBUSTNESS GAN HEMT SUBJECT TO REVERSE BIAS STRESS
Paper i proceeding, 2010
Författare
A. Stucco
A. Ronchi
A. Chini
Per-Åke Nilsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
G. Meneghesso
E. Zanoni
Wocsdice 2010
Ämneskategorier
Annan elektroteknik och elektronik