HIGH ROBUSTNESS GAN HEMT SUBJECT TO REVERSE BIAS STRESS
Paper i proceeding, 2010

Författare

A. Stucco

A. Ronchi

A. Chini

Per-Åke Nilsson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

G. Meneghesso

E. Zanoni

Wocsdice 2010

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-06