Quantitative APT analysis of Ti(C,N)
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2011
Författare
Jenny Angseryd
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Fang Liu
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Hans-Olof Andrén
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Stephan S A Gerstl
Imago Scientific Instruments
Mattias Thuvander
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Publicerad i
Ultramicroscopy
0304-3991 (ISSN) 1879-2723 (eISSN)
Vol. 111 Nummer/häfte 6 s. 609-614Kategorisering
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Analytisk kemi
Bearbetnings-, yt- och fogningsteknik
Styrkeområden
Materialvetenskap
Identifikatorer
DOI
10.1016/j.ultramic.2011.01.031