The influence of inhomogeneous trap distribution on results of DLTS study
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2011
electron traps
v7
spectroscopy
1989
molecular-beam epitaxy
p399
semiconductors
and n
Författare
M. Kaczmarczyk
Instytut Technologii Elektronowej (ITE)
M. Kaniewska
Instytut Technologii Elektronowej (ITE)
Olof Engström
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
Microelectronics and Reliability
0026-2714 (ISSN)
Vol. 51 7 1159-1161Ämneskategorier
Fysik
Elektroteknik och elektronik
DOI
10.1016/j.microrel.2011.01.011