Extending the Best Linear Approximation to Characterize the Nonlinear Distortion in GaN HEMTs
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2011
gallium nitride (GaN)
linear characteristics
high electron-mobility transistors (HEMTs)
Linear approximation
nonlinear distortion
Författare
Mattias Thorsell
Gigahertzcentrum
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Kristoffer Andersson
Gigahertzcentrum
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Guillaume Pailloncy
Yves Rolain
Vrije Universiteit Brüssel (VUB)
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
0018-9480 (ISSN) 15579670 (eISSN)
Vol. 59 12 1-8 6061918Styrkeområden
Informations- och kommunikationsteknik
Ämneskategorier
Annan elektroteknik och elektronik
DOI
10.1109/TMTT.2011.2169423