Admittance spectroscopy of Si/LaLuO3 and Si/GdSiO MOS Structures (Invited)
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2012

Författare

F. Ducroquet

Olof Engström

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

H. D. B. Gottlob

J. M. J. Lopes

J. Schubert

ECS Transactions

1938-5862 (ISSN) 1938-6737 (eISSN)

Vol. 45 3 103 - 117

Ämneskategorier

Nanoteknik

Annan elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-08