Secondary Ion Mass Spectrometry: Characterizing Complex Samples in Two and Three Dimensions.
Reviewartikel, 2013

Författare

John Fletcher

Göteborgs universitet

Forskning Andra publikationer

John C Vickerman

Analytical Chemistry

0003-2700 (ISSN) 1520-6882 (eISSN)

Vol. 85 2 610-639

Ämneskategorier

Analytisk kemi

DOI

10.1021/ac303088m

Publikationsdata kopplat till DOI

PubMed

23094968

Mer information

Skapat

2017-10-10

Feedback och support

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se.

Om tjänsten

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Länkar

Chalmers bibliotek
Chalmers forskning
Chalmers examensarbeten

Chalmers tekniska högskola

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE