Secondary Ion Mass Spectrometry: Characterizing Complex Samples in Two and Three Dimensions.

John Fletcher; John C Vickerman

doi:10.1021/ac303088m

Secondary Ion Mass Spectrometry: Characterizing Complex Samples in Two and Three Dimensions.
Reviewartikel, 2013

Författare

John Fletcher

Göteborgs universitet

Forskning Andra publikationer

John C Vickerman

Analytical Chemistry

0003-2700 (ISSN) 1520-6882 (eISSN)

Vol. 85 2 610-639

Ämneskategorier

Analytisk kemi

DOI

10.1021/ac303088m

Publikationsdata kopplat till DOI

PubMed

23094968

Mer information

Skapat

2017-10-10

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se.

Meddelande

Din e-postadress

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Chalmers bibliotek

Chalmers forskning

Chalmers examensarbeten

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE

Secondary Ion Mass Spectrometry: Characterizing Complex Samples in Two and Three Dimensions. Reviewartikel, 2013