Charge-Carrier Injection Into The Buried Oxide Of Wafer-Bonded Silicon-On-Insulator Materials
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1995

Författare

Stefan Bengtsson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Per Ericsson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Ulf Södervall

Institutionen för fysik

K. Mitani

T. Abe

Journal Of The Electrochemical Society

Vol. 142 8 2721-2726

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik