Charge carrier injection into the buried oxide of wafer bonded silicon-on-insulator materials

Stefan Bengtsson; Per Ericsson; K Mitani; Takao Abe

Charge carrier injection into the buried oxide of wafer bonded silicon-on-insulator materials
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1994

Författare

Stefan Bengtsson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Forskning Andra publikationer

Per Ericsson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

K Mitani

Takao Abe

Proc. 6th International Symposium on Silicon-On-Insulator Technology and Devices. The Electrochemical Society.

Vol. 94 11 245-

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-07

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se.

Meddelande

Din e-postadress

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Chalmers bibliotek

Chalmers forskning

Chalmers examensarbeten

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE

Charge carrier injection into the buried oxide of wafer bonded silicon-on-insulator materials Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1994