Microroughness characterisation using 2D fourier transform of AFM images
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1994

Författare

Mats Bergh

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Mats O. Andersson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Stefan Bengtsson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-07