Cluster and polyatomic primary ion beams
Kapitel i bok, 2013

Författare

John Fletcher

Göteborgs universitet

Forskning Andra publikationer

Christopher Szakal

ToF-SIMS: Materials Analysis by Mass Spectrometry, 2nd Ed.

291-310

Ämneskategorier

Analytisk kemi

Materialkemi

Den kondenserade materiens fysik

ISBN

978-1-906715-17-5

Mer information

Skapat

2017-10-10

Feedback och support

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se eller via telefon 031-772 3744.

Om tjänsten

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Länkar

Chalmers bibliotek
Chalmers forskning
Forskningsprojekt på chalmers.se

Chalmers tekniska högskola

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE