Cluster and polyatomic primary ion beams
Kapitel i bok, 2013

Författare

John Fletcher

Göteborgs universitet

Christopher Szakal

ToF-SIMS: Materials Analysis by Mass Spectrometry, 2nd Ed.

291-310

Ämneskategorier

Analytisk kemi

Materialkemi

Den kondenserade materiens fysik

ISBN

978-1-906715-17-5