Cluster and polyatomic primary ion beams
Kapitel i bok, 2013
Författare
John Fletcher
Göteborgs universitet
Christopher Szakal
ToF-SIMS: Materials Analysis by Mass Spectrometry, 2nd Ed.
291-310
978-1-906715-17-5 (ISBN)
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Analytisk kemi
Materialkemi
Den kondenserade materiens fysik
ISBN
978-1-906715-17-5