Experiment design for quick statistical FET large signal model extraction
Paper i proceeding, 2013
Statistical Models
FET
Large Signal Models
Författare
Iltcho Angelov
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Mattias Ferndahl
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Marcus Gavell
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
G. Avolio
KU Leuven
D. Schreurs
KU Leuven
81st ARFTG Microwave Measurement Conference: Metrology for High Speed Circuits and Systems, ARFTG 2013
6579041
9781467349826 (ISBN)
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik
DOI
10.1109/ARFTG.2013.6579041
ISBN
9781467349826