Microwave noise characterization of graphene field effect transistors
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2014

The microwave noise parameters of graphene field effect transistors (GFETs) fabricated using chemical vapor deposition graphene with 1  μm gate length in the 2 to 8 GHz range are reported. The obtained minimum noise temperature (Tmin) is 210 to 610 K for the extrinsic device and 100 to 500 K for the intrinsic GFET after de-embedding the parasitic noise contribution. The GFET noise properties are discussed in relation to FET noise models and the channel carrier transport. Comparison shows that GFETs can reach similar noise levels as contemporary Si CMOS technology provided a successful gate length scaling is performed.

microwave noise

noise modeling

Graphene FET

noise temperature

Författare

Mehbuba Tanzid

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

MICHAEL ANDERSSON

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

Jie Sun

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Kvantkomponentfysik

Jan Stake

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

Applied Physics Letters

0003-6951 (ISSN) 1077-3118 (eISSN)

Vol. 104 013502-

Styrkeområden

Informations- och kommunikationsteknik

Nanovetenskap och nanoteknik

Infrastruktur

Kollberglaboratoriet

Nanotekniklaboratoriet

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik

DOI

10.1063/1.4861115