The influence of the gate leakage current and the gate resistance on the noise and gain performances of 90-nm CMOS for micro- and millimeter-wave frequencies
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2004
Författare
Hans-Olof Vickes
Mattias Ferndahl
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Anowar Masud
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Herbert Zirath
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Microwave Symposium Digest , 2004 IEEE MTT-S International
0149-645X (ISSN)
Vol. 2 971-974Ämneskategorier
Annan elektroteknik och elektronik