High resolution chemical analysis in SEM
Paper i proceeding, 2006
Författare
Torbjörn Jonsson
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Sead Canovic
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Fang Liu
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Mats Halvarsson
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
The 16th International Microscopy Congress (IMC16), September 3-8, 2006, Sapporo, Japan, H. Ichinose and T. Sasaki (eds), page 892
Ämneskategorier
Annan materialteknik