High resolution chemical analysis in SEM
Paper i proceeding, 2006

Författare

Torbjörn Jonsson

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Sead Canovic

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Fang Liu

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Mats Halvarsson

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

The 16th International Microscopy Congress (IMC16), September 3-8, 2006, Sapporo, Japan, H. Ichinose and T. Sasaki (eds), page 892

Ämneskategorier

Annan materialteknik