Multiline TRL Calibration Standards for S-parameter Measurement of Planar Goubau Lines from 0.75 THz to 1.1 THz
Paper i proceeding, 2018

We present a multiline Thru-Reflect-Line (TRL) calibration standard for Planar Goubau Line (PGL) which allows setting the calibration plane along the PGL and thus removing the effect of the embedding structure. This opens the possibility of characterizing PGL-circuits. The presented structures were used for calibrating S-parameters measurements between 0.75 THz and 1.1 THz to characterize a 1 mm long and 10 µm wide PGL. The line shows negligible dispersion with an effective relative permittivity of 2.0 and an attenuation constant lower than 0.35 Np/mm (0.65 dB/λ).

On-wafer THz measurements

Calibration

S-parameter characterization

Terahertz circuits

Planar Goubau Lines

Multiline TRL

Författare

Juan Cabello Sánchez

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

Helena Rodilla

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

Vladimir Drakinskiy

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

Jan Stake

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

0149-645X (ISSN) 978-1-5386-5067-7 (eISSN)

879-882

2018 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - IMS
Philadelphia, USA,

Styrkeområden

Informations- och kommunikationsteknik

Infrastruktur

Kollberglaboratoriet

Nanotekniklaboratoriet

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik

DOI

10.1109/MWSYM.2018.8439138

Mer information

Senast uppdaterat

2018-08-20