Interlaboratory investigation of on-wafer S-parameter measurements from 110 GHz to 1.1 THz
Paper i proceeding, 2023
S-parameter
terahertz
measurement comparison
On wafer measurement
coplanar waveguide
millimetre-wave
Författare
Xiaobang Shang
National Physical Laboratory (NPL)
Nick Ridler
National Physical Laboratory (NPL)
Uwe Arz
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)
Gia Ngoc Phung
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB)
Isabelle Roch-Jeune
Université de Lille
Guillaume Ducournau
Université de Lille
Kamel Haddadi
Ferdinand-Braun-Institut fur Hochstfrequenztechnik
Thomas Flisgen
Ferdinand-Braun-Institut fur Hochstfrequenztechnik
Ralf Doerner
Ferdinand-Braun-Institut fur Hochstfrequenztechnik
Djamel Allal
Laboratoire National De Metrologie Et D'essais
Divya Jayasankar
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
RISE Research Institutes of Sweden
Jan Stake
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
Robin Schimdt
Keysight Technologies, Keysight Laboratories
Gavin Fisher
FormFactor GmbH
Faisal Mubarak
Dutch National Metrology Institute
53rd European Microwave Conference
624-627
9782874870729 (ISBN)
Berlin, Germany,
THz-metrologi för moderna trådlösa system
Stiftelsen för Strategisk forskning (SSF) (FID17-0040), -- .
Traceability for electrical measurements at millimetre-wave and terahertz frequencies for communications and electronics technologies (TEMMT)
European Association of National Metrology Institutes (EURAMET) (18SIB09), 2019-05-01 -- 2022-04-30.
Styrkeområden
Informations- och kommunikationsteknik
Infrastruktur
Kollberglaboratoriet
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik
Reglerteknik
Annan elektroteknik och elektronik
DOI
10.23919/EuMC58039.2023.10290550