An Interlaboratory Comparison of On-Wafer S-Parameter Measurements up to 1.1 THz
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2025
Författare
Faisal Mubarak
Gia Ngoc Phung
Uwe Arz
Kamel Haddadi
Isabelle Roch-Jeune
Guillaume Ducournau
Thomas Flisgen
Ralf Doerner
Djamel Allal
Divya Jayasankar
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
Jan Stake
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
Robin Schmidt
Gavin Fisher
Nick Ridler
Xiaobang Shang
IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
2156-342X (ISSN) 21563446 (eISSN)
THz-metrologi för moderna trådlösa system
Stiftelsen för Strategisk forskning (SSF) (FID17-0040), -- .
Styrkeområden
Informations- och kommunikationsteknik
Infrastruktur
Kollberglaboratoriet
Ämneskategorier (SSIF 2025)
Annan elektroteknik och elektronik
DOI
10.1109/TTHZ.2025.3537461