Comparison Between Artificial and in-Service Impulse Electrical Stress for Insulation Degradation Tests
Paper i proceeding, 2025
Författare
Thomas Hammarström
Chalmers, Elektroteknik, Elkraftteknik
Yuriy Serdyuk
Chalmers, Elektroteknik, Elkraftteknik
Stanislaw Gubanski
Chalmers, Elektroteknik, Elkraftteknik
Johan Tidholm
SEM AB
Annual Report - Conference on Electrical Insulation and Dielectric Phenomena, CEIDP
00849162 (ISSN)
464-4679798331589028 (ISBN)
Manchester, United Kingdom,
Ämneskategorier (SSIF 2025)
Annan elektroteknik och elektronik
DOI
10.1109/CEIDP61707.2025.11218399