Deep-Learning-Based Pixelated Microwave Filter Design and Characterization using Electro-Optical Electric-Field Measurements
Paper i proceeding, 2026
microwave measurements.
convolutional neural network (CNN)
electro-optical (EO)
Artificial intelligence (AI)
deep learning
filters
Författare
Han Zhou
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Richard Bannister
University of Surrey
Caspar Pierce
University of Surrey
Haojie Chang
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
David Widén
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Ludvig Fornstedt
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Gabriel Melin
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Alexander Bohlin
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Pontus Lindeberg Fredriksson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Dilbagh Singh
National Physical Laboratory (NPL)
Christian Fager
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Koen Buisman
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest
0149645X (ISSN)
9798331547684 (ISBN)
Boston, USA,
Ämneskategorier (SSIF 2025)
Annan elektroteknik och elektronik
Den kondenserade materiens fysik
DOI
10.1109/IMSRFSA70221.2026.11624364
ISBN
9798331547684